高精度薄膜測厚儀(0.001μm) 型號：DRK-204C 薄膜檢測儀對薄膜，測量厚度、均勻性、薄膜彈性模量等，并且可以與計算機連接通訊，實現(xiàn)數(shù)據(jù)自動處理，從而提高了檢驗速度，了檢測人員的勞動強度。該儀器對環(huán)境溫度波動不敏感，經(jīng)濟實用，適合于%種薄膜企業(yè)的，控制和計量檢測單位或的檢測使用。
構成： 由光電傳感器、測量座、抬落、數(shù)顯表等部分組成。
特點：檢定快速，準確。測量值由數(shù)顯表直接顯示，讀數(shù)方便，減少人為讀數(shù)誤差；%特的設計使儀器結構穩(wěn)定性很高，溫度穩(wěn)定性很好；測量重復性好，漂移量很小?？蓪崿F(xiàn)位置清零、
公/英制轉換、預先置數(shù)、自動求，值和，值等多種功能；可通過與計算機連接通訊實現(xiàn)測量結果的自動記錄、自動處理、打印及統(tǒng)計分析等；對環(huán)境溫度波動相對不敏感，現(xiàn)有基層計量室不
提高溫控要求即可使用。
主要參數(shù)
數(shù)顯分辨率：0.001μm
示值誤差：±(0.4+0.04L)μm
測量范圍：0-10mm |
