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產(chǎn)品型號(hào): |
VSN/AT-5112 |
產(chǎn)品名稱: |
電阻測(cè)試儀 |
產(chǎn)品報(bào)價(jià): |
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產(chǎn)品特點(diǎn): |
電阻測(cè)試儀是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀,內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路,可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值,忽略PTC的自身溫度敏感特性,達(dá)到測(cè)試,測(cè)試誤差小于0.1Ω,準(zhǔn)確度0.1%。采樣微處理器控制的可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn),其Z高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒,論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。 |
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VSN/AT-5112電阻測(cè)試儀 的詳細(xì)資料: |
電阻測(cè)試儀 型號(hào):VSN/AT-5112 | 貨號(hào):ZH5363 | 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 電阻測(cè)試儀是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀,內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路,可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值,忽略PTC的自身溫度敏感特性,達(dá)到測(cè)試,測(cè)試誤差小于0.1Ω,準(zhǔn)確度0.1%。 采樣微處理器控制的可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn),其zui高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒,論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。 規(guī)格: 測(cè)試準(zhǔn)確度:0.3% 測(cè)試范圍:0~100Ω 測(cè)試電流:1mA 雙路同時(shí)測(cè)試:標(biāo)準(zhǔn)件和被測(cè)件同時(shí)檢測(cè) 性能特征: 內(nèi)置比較器設(shè)置 可選Handler接口 應(yīng)用: PTC熱敏電阻的測(cè)試 |  | |
| 產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: 電阻測(cè)試儀 VSN/AT-5112 |
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